表面轮廓粗糙度测量系统
  DI-3型 电感金刚石触针表面粗糙度测量仪
  LI-3型 激光干涉金刚石触针式表面形貌测量仪
  WIVS型 白光干涉垂直扫描表面形貌测量仪
  CFLI-3型 测力可控大量程表面轮廓测量仪
  MAFM型 计量型原子力探针表面粗糙度测量仪
  LI/WIVS型 激光干涉/白光干涉两用表面形貌测量仪
  WIVS/MAFM型 白光干涉/原子力探针两用表面形貌测量仪
  DI/WIVS型 电感/白光干涉两用表面形貌测量仪
  MDV/LI型 显微图像/激光干涉两用表面形貌测量仪
  WIS型 白光干涉图像轮廓测量仪
  WIS/Stylus型 白光干涉图像/触针表面粗糙度两用测量仪
  MDV型 大面积显微图像测量仪
白光干涉显微镜
  WIM型 白光干涉显微镜
精密位移传感器
  LIDM型 小型激光测长仪
测量工作台
  2D-Ⅰ型 共基面运动X-Y测量工作台
  2D-Ⅱ型 计量型共基面运动X-Y测量工作台
  2D-Ⅲ型 长行程二维微纳米驱动工作台
  2D-Ⅳ型 长行程计量型二维微纳驱动工作台
  1D-Ⅰ型 一维长行程微纳米驱动工作台
  1D-Ⅱ型 长行程计量型微纳米驱动工作台
  VS-Ⅰ型 垂直扫描工作台
其他产品
  仪器通用数据采集及控制系统
首页 > 产品展示 > LI-3型 激光干涉金刚石触针式表面形貌测量仪
LI-3型 激光干涉金刚石触针式表面形貌测量仪
   
文档
   
原理
   
 
主要特点
 
  • 采用了激光干涉位移传感器,量程大,分辨率高,本仪器量程可达5mm,全量程的分辨率为5nm;
  • 由于传感器具有大量程,高精度的特点,测量时,可在测量的一次过程中得到一综合误差轮廓曲线,即可同时获取表面轮廓的粗糙度、波度及形状误差;
  • 仪器可进行三维测量评定,特别适用于曲面、非球面表面三维测量与评定;
  • 可方便进行采样间隔、采样长度、采样速度、评定长度的选择;
  • 可提供最小二乘法、多项式法、高斯法等滤波方式选择。
技术指标
位移传感器 激光干涉位移传感器
垂直测量量程 0~5mm
垂直测量分辨率 5nm(全量程)
测针半径 2μm(标准配置),10μm,0.5mm,1mm(可根据用户需求配置)
垂直测量范围 300mm(立柱行程)
水平测量面积 行程:50mm×50mm
水平测量分辨率 0.2μm(最小采样间距)
用途
 
  • 适用于各种机加工(如车、铣、钻、刨、镗、磨)金属表面粗糙度测量与评定;
  • 石材、塑料、纸张、木材等非金属表面的形貌测量与评定;
  • 球面、非球面、自由曲面、结构表面等表面形貌的测量与评定;
  • 球面、非球面、自由曲面、结构表面等表面形貌的测量与评定;
  • 台阶、沟槽高度的测量及工件尺寸的比较测量。
构成与配置
 
  • 激光干涉式金刚触针位移传
  • X-Y测量工作台(注:测量工作台具有开环与闭环控制两种,一般的测量提供开环测量工作台,对于水平位移要求较高时,可选择装有计量系统的闭环测量工作台。)
  • 立柱与花岗石台面
  • 工控机与控制箱
  • 标准刻线样板
应用实例
轴承滚道
滚动导轨滚道