表面轮廓粗糙度测量系统
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  CFLI-3型 测力可控大量程表面轮廓测量仪
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  LI/WIVS型 激光干涉/白光干涉两用表面形貌测量仪
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CFLI-3型 测力可控大量程表面轮廓测量仪
   
文档
   
原理
   
 
主要特点
 
  • 采用大量程、高精度位移传感器,在一个测量行程内,可同时获取轮廓尺寸、形状误差、波度及表面粗糙度。
  • 可对高度差较大的曲面轮廓进行三维测量与评定;
  • 采用音圈电机控制测量杠杆,使仪器具有如下特有功能:
    1. 测量力可控制,根据测量对象设定;
    2. 测量力为恒力,不会随测量值的增大而增大;
    3. 可切换杠杆转动的方向,在不翻转工件的条件下,可测量上、下表面的轮廓;
    4. 可测量内径尺寸;
    5. 测针在测量过程结束后,可抬起,避免了测头的磨损与碰撞;
    6. 测杆水平移动时,可程序控制测针的起落,特别适用于测量阶梯陡峭的表面。
技术指标
位移传感器 可控测力激光干涉位移传感器
垂直测量量程 ±12.5mm
垂直测量分辨率 10nm(全量程)
测杆半径 2μm(标准配置),10μm,0.5mm,1mm,可根据用户需求提供。
垂直测量范围 300mm(立柱行程)
水平测量面积 行程:50mm×50mm
最小采样间距 0.2μm
水平计量分辨率 10nm
注:通常测量工作台提供一维计量系统,用户需二维计量系统时,需另外提出。
用途
 
  • 平面、球面、非球面、自由曲面、结构表面的轮廓坐标尺寸,形状误差、波度、表面粗糙度的测量与评定;
  • 较大高度差的台阶、沟槽、凹坑测量;
  • 石料、水泥制品、金刚石刀具等较粗糙表面的形貌测量;
  • 垂直、水平采用激光干涉位移传感器,精度高,具有溯源性;
  • 提供最小二乘法、多项式法、高斯等多种滤波方式的选择;
  • 提供轮廓误差分析软件及误差补偿、校正方法。
构成与配置
 
  • 可控测力激光干涉位移传感器
  • 小型激光干涉测长仪
  • X—Y测量工作台
  • 工件定位工作台
  • 立柱及花岗石台面
  • 工控机及控制箱
应用实例
轴承滚道
滚动导轨滚道